Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku

Pro pokročilou charakterizaci materiálů získali vědci nejmodernější techniky

Pro pokročilou charakterizaci materiálů získali vědci nejmodernější techniky
Nejmodernější mikroskopické a spektroskopické techniky mohou pro komplexní charakterizaci materiálů na atomární úrovni využívat výzkumníci z Materials-Envi Lab (MEL) Centra nanotechnologií VŠB-TUO. Z projektu REFRESH totiž pořídili vysokorozlišovací skenovací elektronovou mikroskopii (HRSEM) za více než 24 milionů korun a rentgenovou fotoelektronovou spektroskopii (XPS) za 16,5 milionů korun.

Kromě MEL budou přístroje využívat také další tzv. živé laboratoře projektu REFRESH, výzkumné skupiny na VŠB-TUO, zahraniční spolupracovníci i komerční partneři.

Vývoj nových typů materiálů vyžaduje komplexní chemickou, strukturní, velikostní, morfologickou a fyzikálně-chemickou charakterizaci pro pochopení souvislostí mezi podmínkami přípravy materiálů a jejich výslednými chemickými, strukturními a dalšími aplikačně významnými vlastnostmi,“ uvedl manažer MEL Ondřej Malina.

RTG fotoelektronová spektroskopie (XPS) se používá pro chemickou a strukturní analýzu povrchů pevných látek včetně vrstev, filmů či práškových materiálů. Zařízení je určené zejména pro velmi přesné kvantitativní i kvalitativní chemické analýzy vzorků. Metoda také dovoluje odlišit různé oxidační stavy kovů nebo organické funkční skupiny ve strukturách materiálů. Vědci navíc mohou získat unikátní informace o změně chemického složení a struktury materiálů na povrchu a v objemu materiálu pomocí tzv. hloubkových profilů.

Nový XPS přístroj v naší laboratoři dovoluje zcela jedinečné propojení s vysokorozlišovacím skenovacím elektronovým mikroskopem, díky čemuž lze monitorovat chemické a strukturní vlastnosti materiálů v přesně definované části vzorku. Kromě informace o chemii a struktuře materiálu tak dostáváme v jednom časovém okně také informaci o velikosti a morfologii studovaných objektů a částic. Tato kombinace unikátních technik je ojedinělá v celoevropském měřítku. Očekáváme proto mimořádný zájem o její využití nejen v rámci VŠB-TUO, ale i od zahraničních a tuzemských firem i akademických partnerů,“ řekl vedoucí MEL Radek Zbořil.

Skenovací elektronový mikroskop s vysokým rozlišením je špičkový nástroj pro detailní velikostní, morfologickou a strukturní analýzu připravených materiálů. Odborníci v MEL ho využívají k popisu velikosti, morfologie a struktury nízkodimenzionálních materiálů, jako jsou deriváty grafenu, kovové organické sítě, trubice oxidů kovů nebo uhlíkové tečky pro aplikace v zelené energetice, katalýze či medicíně. Přístroj navíc dovoluje kombinované měření ve skenovacím i transmisním módu (STEM) s přesným chemickým mapováním vybrané oblasti vzorku. Kromě výzkumu je technika zásadní pro desítky komerčních partnerů požadujících velikostní, morfologickou, chemickou a strukturní charakterizaci studovaných materiálů.

Text: Martina Šaradínová, PR manažerka projektu REFRESH
Foto: Petr Havlíček 

 

Vloženo: 4. 2. 2025
Kategorie:  Aktuality
Útvar: 9110 - Kancelář prorektora pro strategii a spolupráci
Zpět