Stávající vybavení CNT laboratoří doplnil nový stroj FlexSEM 1000II od firmy Hitachi

FlexSEM 1000 II VP-SEM je ideální flexibilní přístroj nejen vzhledem ke své „velikosti“ a možnosti umístění i do menších laboratorních prostor, ale především funkcemi zobrazování, a to i v prostředí s proměnným tlakem, což je jeho velkou výhodou.
Taková funkce byla dříve dostupná pouze pro SEM plné velikosti. 

Mikroskop je vybaven EDS analyzátorem prvkového složení (Bruker) a v kombinaci se zobrazením mikrostruktury umožňuje analýzu materiálů pro širokou škálu aplikací. Značnou funkční výhodou mikroskopu je, že biologické, biomineralizované a nevodivé vzorky obecně mohou být pozorovány bez předběžného upravení pokovením v celém rozsahu tlaku a urychlovacího napětí, a to stále s velice dobrou ostrostí obrazu. 
Při urychlovacím napětí 20 keV v režimu sekundárních elektronů je standardní rozlišení 4 nm při zvětšení 60 000x.

FlexSEM využívá systém Opti-Bias, který poskytuje vyšší vyzařovací proud při nízkém kV pro optimální jas. Výsledkem je nejlepší ostrost obrazu ve třídě stolních elektronových mikroskopů při nízkém urychlovacím napětí.

Na pracovišti CNT nyní intenzivně využíváme skenovací transmisní elektronový mikroskop JEOL JSM-7610F Plus s EDS mikroanalyzátorem (Oxford Instruments) a „in-situ“ korelační AFM jednotkou LiteScope firmy NenoVision. Dále mikroskop se Schottky FEG katodou, který umožňuje pozorovat nanočástice také v režimu transmise při 30 keV se standardním rozlišením 0,6 nm.
A nyní tedy rozšířené vybavení o FlexSEM 1000II VP-SEM.