Skenovací transmisní elektronový mikroskop
Skenovací elektronový mikroskop umožňuje při využití požadované detekce (pomocí sekundárních elektronů, zpětně odražených elektronů nebo pomocí skenovací transmisní elektronové mikroskopie) snímat a generovat informace z povrchů vodivých a nevodivých materiálů včetně chemické analýzy pomocí energiově disperzního spektrometru. Kombinací skenovacího elektronového mikroskopu a mikroskopie etomových sil s využitím unikátní zobrazovací techniky “Correlative Probe and Electron Microscopy“ systém umožňuje simultánně charakterizovat povrchy zkoumaných vzorků a získat tak informace o jejich topografii.